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龙图腾网恭喜深圳市池纳光电有限公司申请的专利一种纳米晶产品的结构检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119492748B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510081049.2，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权一种纳米晶产品的结构检测方法是由王俊君;徐兆娟;徐伟强设计研发完成，并于2025-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种纳米晶产品的结构检测方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种纳米晶产品的结构检测工艺，工艺包括：步骤一，将显影片进行初始化；步骤二，将纳米晶产品放置在支撑台上，将初始化后的显影片覆盖在纳米晶产品上并轻轻按压，确保两者间无气泡或缝隙；步骤三，打开光源，增强显影影像对比度；步骤四，观测显影片的显影影像；步骤五，判断纳米晶产品是否有结构缺陷。本申请具有提高了纳米晶产品的结构检测准确性的效果。

本发明授权一种纳米晶产品的结构检测方法在权利要求书中公布了：1.一种纳米晶产品的结构检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，将显影片1进行初始化；所述显影片1分为三层，两侧外层为透明保护层11，中间层为含有磁性微粒的功能层12，所述磁性微粒为铁氧体或其他具有高磁导率的微粒，所述功能层12由若干个紧密排列的功能单元组成，每一个功能单元的形状大小完全一致，且每一个功能单元中的磁性微粒数量一致，所述功能层12中的所述磁性微粒在所述初始化的状态下分布在对应的所述功能单元的同侧，所述显影片1上无影像显示；所述初始化，具体包括：对所述显影片1中的所述磁性微粒进行校准，使所述功能层12中所述磁性微粒恢复为分布在对应的所述功能单元的同侧的状态；步骤二，将纳米晶产品放置在支撑台上，所述支撑台上设有固定装置，用于固定所述显影片1和平放待检测的所述纳米晶产品，将初始化后的所述显影片1覆盖在所述纳米晶产品上并轻轻按压，确保两者间无气泡或缝隙；步骤三，打开光源，增强显影影像对比度；步骤四，观测所述显影片1的所述显影影像；步骤五，判断所述纳米晶产品是否有结构缺陷；所述步骤五包括：取合格的所述纳米晶产品，执行所述步骤一、所述步骤二、所述步骤三和所述步骤四，得到正常影像；在所述显影影像与所述正常影像形状一致的情况下，则所述纳米晶产品没有结构缺陷；在所述显影影像与所述正常影像形状不一致的情况下，则所述纳米晶产品有结构缺陷。

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