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龙图腾网恭喜济南兰星电子有限公司申请的专利一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119511050B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510080442.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法是由李浩;魏兴政;高飞;刘谦设计研发完成，并于2025-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法在说明书摘要公布了：本发明涉及二极管芯片测试技术领域，具体为一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法，包括检测座，所述检测座的内部开设有芯片槽，且芯片槽的内侧壁上设置有若干个与芯片引脚相配合的连接脚，若干个所述连接脚等分为四组。该种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法，通过导向坡牵引插针滑向定位槽，此时插针即可沿连接脚进行居中连接，相较于现有将插针插入接触片间隙，上述相邻凸边组成的导向坡可对芯片的插针进行牵引，使插针主动进入定位槽，以此保证芯片安装后，其插针始终能够与连接脚进行居中连接，一方面无需使用者控制插针与测试部件进行精准对位，操作便利性好，另一方面可使连接脚与插针的接触更加稳定。

本发明授权一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法在权利要求书中公布了：1.一种二极管芯片光电性能测试装置，包括检测座（1），其特征在于：所述检测座（1）的内部开设有芯片槽（2），且芯片槽（2）的内侧壁上设置有若干个与芯片引脚相配合的连接脚（3），若干个所述连接脚（3）等分为四组，且四组连接脚（3）分别位于芯片槽（2）的四边，所述连接脚（3）上设置有与芯片引脚相配合的定位组件（4）；所述定位组件（4）包括固定设置在连接脚（3）顶部的凸边（41），且凸边（41）设为三角块结构，所述凸边（41）以两个为一组对称分布在连接脚（3）上，且两个凸边（41）之间设为倒三角结构的定位槽（42）；相邻两组所述凸边（41）之间设为正三角结构的导向坡（43）；所述连接脚（3）与芯片槽（2）上设置有引脚固定器（44）；所述引脚固定器（44）包括开设于芯片槽（2）内侧壁上的滑槽（441），且滑槽（441）的数量、位置与连接脚（3）对应，所述滑槽（441）内滑动连接有滑座（442），所述连接脚（3）与滑座（442）进行连接；所述滑槽（441）的内侧壁上设置有弹簧卡齿（443）；所述滑座（442）表面相对弹簧卡齿（443）的一侧开设有柱槽（444），且柱槽（444）内转动连接有旋柱（445），所述旋柱（445）的侧表面开设有与弹簧卡齿（443）相配合的齿槽（446），且旋柱（445）的侧表面切削为与弹簧卡齿（443）相配合的释放切口（447）；所述旋柱（445）的上下两端均开设有螺旋状的斜边（448），所述滑槽（441）的内底壁及内顶壁上均固定连接有与同侧斜边（448）相配合的顶针（449）；所述滑座（442）表面相对连接脚（3）的一侧开设有缺口（4410），且缺口（4410）内设置有可受压弯折的弹片（4411），所述弹片（4411）的顶部转动连接在缺口（4410）内，且弹片（4411）的底部转动连接在滑槽（441）内，所述连接脚（3）上开设有供弹片（4411）穿过的通槽（4412）；所述连接脚（3）与滑座（442）、芯片槽（2）上设置有芯片释放组件（4413）；所述芯片释放组件（4413）包括分别沿连接脚（3）两侧侧表面开设的两个壁槽（44131），且壁槽（44131）内固定设置有连接销（44132），所述滑座（442）的侧表面固定设置有两个扣盘（44133），所述连接脚（3）转动穿插在扣盘（44133）上；所述扣盘（44133）的外表面开设有嵌槽（44134），且嵌槽（44134）内滑动连接有嵌块（44135），所述嵌槽（44134）内设置有顶簧（44136），且顶簧（44136）推动嵌块（44135）外滑，所述连接销（44132）的外端固定连接有受嵌块（44135）限制的限位条（44137）；所述嵌块（44135）的侧表面开设有斜口（44138），所述芯片槽（2）的下侧固定设置有与斜口（44138）相配合的抵块（44139）；所述嵌块（44135）的侧表面开设有与限位条（44137）相配合的弧形斜槽（441310）。

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