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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试方法及测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119479768B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510073523.7，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置是由蔡孟翔;李钢设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储芯片的测试方法及测试装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：在存储芯片的存储位置中写入数据；对多个已写入数据的存储位置进行复写，形成多个数据坏块；对所述存储芯片进行全盘读取，获取所述数据坏块的地址和数量；对所述存储芯片进行垃圾回收；检测所述数据坏块上的有效数据是否被转移至备用闪存块，以及所述数据坏块是否被回收。通过本发明提供的一种存储芯片的测试方法及测试装置，提供一种增长坏块的测试方法。

本发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：在存储芯片的存储位置中写入数据；对多个已写入数据的存储位置进行复写，形成多个数据坏块；对所述存储芯片进行全盘读取，获取所述数据坏块的地址和数量；对所述存储芯片进行垃圾回收；检测所述数据坏块上的有效数据是否被转移至备用闪存块，以及所述数据坏块是否被回收；其中，形成所述数据坏块包括以下步骤：选取一个目标闪存块；判断所述目标闪存块是否符合复写条件；以及若所述目标闪存块符合复写条件，则向所述目标闪存块中复写数据；若所述目标闪存块不符合复写条件，则选取所述目标闪存块的后一个闪存块作为新的所述目标闪存块，直至选取到符合复写条件的所述目标闪存块；在符合复写条件的所述目标闪存块中，已写入数据的存储位置大于或等于第二阈值，且所述第二阈值=目标闪存块的总容量×（每个字符串单元中存储的数据位数-1）每个字符串单元中存储的数据位数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥康芯威存储技术有限公司，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。