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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试方法及测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119479769B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510073525.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置是由王守磊;苏忠益设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储芯片的测试方法及测试装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：向存储芯片发送多个读取命令；等待预设时间后，依照读取命令的顺序和循环次数执行一条读取命令；记录执行所述读取命令至反馈回传数据的时间间隔；判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值，若所述时间间隔小于所述预设时间阈值，则循环执行向所述存储芯片发送多个读取命令，直至判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值的过程，直至所述时间间隔大于或等于所述预设时间阈值，依据所述读取命令的顺序号获取所述存储芯片读缓存器的容量。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置，可获取读缓存器的容量。

本发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：向存储芯片发送多个读取命令；等待预设时间后，依照读取命令的顺序和循环次数执行一条读取命令；记录执行所述读取命令至反馈回传数据的时间间隔；判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值，若所述时间间隔小于所述预设时间阈值，则增加执行的所述读取指令的顺序号的值，并循环执行向所述存储芯片发送多个读取命令，至判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值的过程，直至所述时间间隔大于或等于所述预设时间阈值；依据所述时间间隔大于或等于所述预设时间阈值时，执行的所述读取命令的顺序号，获取所述存储芯片读缓存器的容量范围；减小每条所述读取命令中的数据量的值，并重复循环执行向所述存储芯片发送多个读取命令，至获取所述存储芯片读缓存器的容量范围的过程，获取所述存储芯片读缓存器容量的大小。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥康芯威存储技术有限公司，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。