恭喜合肥康芯威存储技术有限公司潘慧敏获国家专利权
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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119479765B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510059122.6,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统是由潘慧敏;赵啟鹏设计研发完成,并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统,属于存储技术领域。所述存储芯片的写保护测试方法包括以下步骤:对所述存储芯片进行初始化操作;将所述存储芯片中的存储位置分为两个或多个写保护组,并设置两种或多种类型的写保护组;向所述存储芯片中写入数据,并在写入数据过程中进行掉电处理;以及检测每种类型的写保护组中是否被写入数据,进而验证每种类型的写保护是否符合需求。通过本发明提供的存储芯片的写保护测试方法及测试系统,可完成多种写保护功能的验证。
本发明授权一种存储芯片的写保护测试方法及测试系统在权利要求书中公布了:1.一种存储芯片的写保护测试方法,其特征在于,至少包括以下步骤:对所述存储芯片进行初始化操作;将所述存储芯片中的存储位置分为两个或多个写保护组,并设置两种或多种类型的写保护组;向所述存储芯片中写入数据,并在写入数据过程中进行掉电处理;以及检测每种类型的写保护组中是否被写入数据,进而验证每种类型的写保护是否符合需求;其中,将所述存储芯片中所有的存储位置设置为临时写保护,再选取一个逻辑区块地址所在的写保护组设置为上电写保护,且上电写保护所在的写保护组为第二类型写保护组,其他的临时写保护所在的写保护组为第一类型写保护组;所述第二类型写保护组的位置通过以下公式获取:WPGi=[LBAiWPSiZE];其中,WPGi为所述第二类型写保护组在全部写保护组中的位置,LBAi为选取的逻辑区块地址,WPSiZE为一个写保护组的大小。
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