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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储测试方法及存储测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119446238B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510026065.1，技术领域涉及：G11C29/10；该发明授权一种存储测试方法及存储测试设备是由赵啟鹏;苏忠益设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储测试方法及存储测试设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种存储测试方法及存储测试设备，存储测试方法包括以下步骤：设置原始数据的格式，生成多条原始数据；随机化处理原始数据，获得测试数据，并对存储设备写入测试数据；设置保持时长，恒温放置存储设备，并至少持续保持时长；按照随机化处理的相反步骤处理测试数据，获得恢复数据；以及对比恢复数据和原始数据，当恢复数据和原始数据相同，继续测试另一条原始数据，直到遍历测试多条原始数据。本发明提供了一种存储测试方法及存储测试设备，能够准确评估存储设备的缓存性能。

本发明授权一种存储测试方法及存储测试设备在权利要求书中公布了：1.一种存储测试方法，其特征在于，包括以下步骤：设置原始数据的格式，其中设置所述原始数据的比特位数，并设置第一类数据、第二类数据和第三类数据，在所述第一类数据中，相邻的两个比特位数据相反，在所述第二类数据中，间隔一个比特位的两个比特位数据相反，在所述第三类数据中，间隔两个比特位的两个比特位数据相反，从所述第一类数据、第二类数据和第三类数据中挑选至少一类数据混合，生成多条所述原始数据；随机化处理所述原始数据，其中设置参考数据，所述参考数据为预设数据或随机数据，其中所述参考数据的比特位数和所述原始数据的比特位数相同，对所述原始数据取反，获得第一中间数据，异或处理所述第一中间数据和所述参考数据，根据异或处理的输出值，获得测试数据，并对存储设备写入所述测试数据；设置保持时长，恒温放置所述存储设备，并至少持续所述保持时长；按照所述随机化处理的相反步骤处理所述测试数据，获得恢复数据；以及对比所述恢复数据和所述原始数据，当所述恢复数据和所述原始数据相同，继续测试另一条所述原始数据，直到遍历测试多条所述原始数据。

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