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龙图腾网恭喜圣邦微电子(北京)股份有限公司申请的专利一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115327191B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110511361.2，技术领域涉及：G01R1/30；该发明授权一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法是由张新城;于美洁设计研发完成，并于2021-05-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法在说明书摘要公布了：一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法，其特征在于：电路包括DUT信号生成单元、同步时钟信号生成单元、第一开关单元、第二开关单元和减法器；其中，DUT信号生成单元，向同第一开关单元输送DUT信号；同步时钟信号生成单元，用于采集DUT信号以对时钟信号进行更新，以及基于第二控制信号的控制将更新后的时钟信号发送至减法器；第一开关单元，用于控制DUT信号输入至第二开关单元中，以及控制同步时钟信号生成单元的开启或关断状态；第二开关单元，用于控制同步时钟信号输入至减法器中；减法器，用于生成高精度待测信号。本发明中的电路能够保护测试设备，改善待测信号，且结构简单、成本低、效果好，应用广泛。

本发明授权一种改善芯片测试设备测试精度的电路及方法在权利要求书中公布了：1.一种改善芯片测试设备测试精度的电路，其特征在于：所述电路包括DUT信号生成单元、同步时钟信号生成单元、第一开关单元、第二开关单元和减法器；其中，所述DUT信号生成单元，与所述同步时钟信号生成单元和第一开关单元连接，用于向所述同步时钟信号生成单元和第一开关单元输送DUT信号；所述同步时钟信号生成单元，与所述DUT信号生成单元、第一开关单元、第二开关单元连接，用于基于第一开关单元的第一控制信号实现开启或关断，并采集DUT信号以对时钟信号进行更新，以及基于第二开关单元的第二控制信号的控制将更新后的时钟信号发送至减法器；所述第一开关单元，与所述DUT信号生成单元、同步时钟信号生成单元、第二开关单元和减法器分别连接，用于生成第一控制信号并控制所述DUT信号生成单元将其生成的DUT信号输入至所述第二开关单元中，以及用于控制所述同步时钟信号生成单元的开启或关断状态；所述第二开关单元，与第一开关单元、同步时钟信号生成单元、减法器连接，用于接收来自第一开关单元的第一控制信号，并基于所述第一控制信号生成第二控制信号，以控制同步时钟信号输入至所述减法器中；所述减法器，与所述第一控制单元、第二控制单元连接，用于采集来自第一控制单元的DUT信号和来自第二控制单元的同步时钟信号并计算，以生成高精度待测信号。

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