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龙图腾网恭喜浙江华忆芯科技有限公司申请的专利闪存颗粒分级方法、电子设备和计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119649892B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510183885.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权闪存颗粒分级方法、电子设备和计算机可读存储介质是由涂川吉设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本闪存颗粒分级方法、电子设备和计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种闪存颗粒分级方法、电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：获取待筛选的闪存颗粒，确定闪存颗粒的所有块中坏块对应的坏块数量；获取闪存颗粒的正常块中读写数据时对应的第一原始比特错误率，以及闪存颗粒的正常块中写入数据并经过预设等待时间后对应的第二原始比特错误率；其中，测试过程中收集有闪存颗粒操作时间；基于闪存颗粒操作时间、第一原始比特错误率和第二原始比特错误率，确定正常块对应的块分级；基于闪存颗粒中坏块对应的坏块数量和正常块对应的块分级，确定闪存颗粒的颗粒分级。通过上述方式，本申请能够提高闪存颗粒分级的精度。

本发明授权闪存颗粒分级方法、电子设备和计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种闪存颗粒分级方法，其特征在于，所述方法包括：获取待筛选的闪存颗粒，确定所述闪存颗粒的所有块中坏块对应的坏块数量；获取所述闪存颗粒的正常块中读写数据时对应的第一原始比特错误率，以及所述闪存颗粒的正常块中写入数据并经过预设等待时间后对应的第二原始比特错误率；其中，测试过程中收集有闪存颗粒操作时间；基于所述闪存颗粒操作时间、所述第一原始比特错误率和所述第二原始比特错误率，确定所述正常块对应的块分级；基于所述闪存颗粒中所述坏块对应的坏块数量和所述正常块对应的块分级，确定所述闪存颗粒的颗粒分级；其中，所述测试过程对应有多个测试轮次，在不同的测试轮次中，所述正常块中写入有所述数据的数据页的比例相互区别；所述获取所述闪存颗粒的正常块中读写数据时对应的第一原始比特错误率，以及所述闪存颗粒的正常块中写入数据并经过预设等待时间后对应的第二原始比特错误率，包括针对每个测试轮次执行以下步骤：在数据读写测试温度下向所述正常块相应比例的数据页中写入数据，并在数据读写测试温度下读取所述正常块中已写入的数据，确定读写数据时对应的所述第一原始比特错误率；在数据保持测试温度下向所述正常块相应比例的数据页中写入数据，并在经过所述预设等待时间后得到对应的所述第二原始比特错误率；其中，所述数据保持测试温度高于预设温度，且所述预设等待时间分为时长区别的第一等待时间和第二等待时间。

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