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龙图腾网恭喜北京航空航天大学申请的专利一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114923906B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210530885.0，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法是由李然;刘晓斌;毕甲紫设计研发完成，并于2022-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法，涉及非晶合金材料技术领域。具体通过表征合金的自由面形貌，即可实现对非晶合金成分快速筛选；通过对合金表面的高度轮廓进行测量并进行二阶微分变换，可更高精度观察得到表面的微小晶粒。通过对晶粒区间所占比例进行统计，可得到非晶相对含量。可选地，光学显微镜的暗场相也可实现对样品表面非晶相对含量的定量化分析。另外，通过自由表面形貌表征和高度轮廓曲线的二阶微分曲线结合分析，可对晶化区域实现快速定位。与传统的非晶结构表征方式相比，本发明可快速筛选非晶合金成分区间、定量统计晶体相对含量和晶粒相对尺寸、定位晶化区域，表征效率高、准确率高、成本低。

本发明授权一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法在权利要求书中公布了：1.一种快速筛选高形成能力非晶合金成分及定位晶化区域的方法，其特征在于，包括以下步骤：制备合金样品：得到合金自由表面；定性识别非晶成分：将合金自由表面置于带微分干涉成像模块的显微镜下，观察其微分干涉显微形貌的高度差异；定量计算晶体相对含量和晶粒相对尺寸：包括轮廓高度二阶微分统计法或暗场相观察法；其中，所述定性识别非晶成分步骤中，使用带微分干涉成像模块的显微镜，观察到的局部形貌的高度差异来源于样品局部晶化程度的不同：若形貌的高度差异表现为无局部高度起伏，形貌光滑流畅，即为非晶结构；若形貌的高度差异表现为局部高度起伏明显，形貌完全粗糙，即为晶体结构；若形貌的高度差异表现为局部起伏、收缩或形貌为光滑的衬底下析出颗粒，即为半非晶结构；所述轮廓高度二阶微分统计法，包括以下步骤：对合金自由表面的轮廓高度进行测量，将测得的轮廓高度曲线进行二阶微分计算，形成二阶微分曲线，对二阶微分曲线的突变范围进行统计；所述对合金自由表面的轮廓高度进行测量包括线轮廓高度和或面轮廓高度，高度轮廓测量分辨率最高可达20nm；所述二阶微分计算公式为：，i=2,3,4,5……n，其中上随着基线长度的二阶微分值，分别为高度轮廓曲线上对应的高度值，n为高度轮廓曲线采集的点的总个数；所述二阶微分曲线的突变范围为纵坐标轴±0.1，统计突变范围对应波动段的横坐标长度，并求得其与基线总长度的比例，所得即为该基线方向上晶体相的相对含量；所述暗场相观察法，包括以下步骤：将合金自由表面置于光学显微镜的暗场相下进行观察，统计亮区面积所占视场总面积的比例；还包括定位晶化区域：利用轮廓高度二阶微分统计法分析自由表面高度轮廓二阶微分曲线中波动段的位置分布，结合其表面的微分干涉显微形貌图像，即可快速定位晶化区域。

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