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龙图腾网恭喜成都光创联科技有限公司申请的专利一种光器件测试电路、测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716649B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510240476.0，技术领域涉及：G01R31/54；该发明授权一种光器件测试电路、测试方法是由刘伟;许远忠;张强;李惠敏设计研发完成，并于2025-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光器件测试电路、测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光器件测试技术领域，公开一种光器件测试电路、测试方法，包括：MCU控制单元、阻抗测试设备、外壳导通测试单元；所述外壳导通测试单元包括继电器，所述MCU控制单元与继电器连接，当MCU控制单元控制继电器断开时，继电器不与电极连通，且继电器与MCU控制单元形成回路；当MCU控制单元控制继电器闭合时，继电器与电极连通；所述阻抗测试设备与MCU控制单元连接，阻抗测试设备与光器件的所有引脚连接，阻抗测试设备还通过引出线与电极连接；所述光器件可拆卸的放置在测试结构上，且放置在测试结构上时，光器件与测试结构导通。本发明测试光器件引脚与其外壳的绝缘状况时，能保证测试的结果是有效的。

本发明授权一种光器件测试电路、测试方法在权利要求书中公布了：1.一种光器件测试电路，其特征在于：通过电极与光器件测试结构实现连接；所述测试电路包括：MCU控制单元、阻抗测试设备、外壳导通测试单元；所述外壳导通测试单元包括继电器，所述MCU控制单元与继电器连接，当MCU控制单元控制继电器断开时，继电器不与电极连通，且继电器与MCU控制单元形成回路；当MCU控制单元控制继电器闭合时，继电器与电极连通；所述阻抗测试设备与MCU控制单元连接，阻抗测试设备与光器件的所有引脚连接，阻抗测试设备还通过引出线与电极连接；所述光器件可拆卸的放置在测试结构上，且放置在测试结构上时，光器件与测试结构导通；所述MCU控制单元的DAC端口与继电器的触点6连接，MCU控制单元的ADC端口与触点3连接，继电器的触点7与触点2连通，继电器的触点5与电极SW1连接，继电器的触点4与电极SW2连接；所述MCU控制单元的GPIO端口与继电器的控制端连接；当MCU控制单元通过GPIO端口向继电器的控制端发送低电平时，继电器断开，即继电器的触点6与触点7连通，触点3与触点2连通；当MCU控制单元通过GPIO端口向继电器的控制端发送高电平时，继电器闭合，即继电器的触点6与触点5连通，触点3与触点4连通；所述测试结构包括测试夹具、绝缘导杆、第一导电金属块、第二导电金属块；所述光器件可拆卸的放置在第二导电金属块上，动作测试夹具时，绝缘导杆推动第一导电金属块向第二导电金属块移动，直到第一导电金属块与光器件接触时，第一导电金属块、光器件的外壳以及第二导电金属块连通；所述电极包括电极SW1、电极SW2；所述第二导电金属块通过电极SW1与继电器的触点4连通，所述第一导电金属块通过电极SW2与继电器的触点5连通；所述测试电路还包括电阻R1、电阻R2、电阻R3；所述电阻R1的一端与MCU控制单元的DAC端口连接，电阻R1的另一端与继电器的触点6连接；电阻R2的一端与继电器的触点5连接，电阻R2的另一端与电极SW1连接；电阻R3的一端分别与MCU控制单元的ADC端口、继电器的触点3连接，电阻R3的另一端接地。

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