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龙图腾网恭喜长鑫存储技术有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114624575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210195949.6，技术领域涉及：G01R31/3183；该发明授权芯片测试方法、装置、设备及存储介质是由古城设计研发完成，并于2022-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，测试方法包括：确定寄存器测试适配文件，根据预设测试环境下的寄存器描述文件确定寄存器测试适配文件，寄存器测试适配文件与预先确定的测试用例模板形式相适配；根据寄存器测试适配文件和测试用例模板构建测试用例，并执行测试用例，以对芯片进行测试；确定寄存器测试适配文件还包括，在预设测试环境发生变更时，响应于变更，确定寄存器描述文件的变更信息；根据变更信息，变更寄存器测试适配文件，无需进行繁琐的寄存器信息查找、录入工作，提高了芯片测试效率，降低出错率，提高测试准确性，并能够响应于预设测试环境发生变更，适应性地变更寄存器测试适配文件，无需重新构建测试环境。

本发明授权芯片测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，用于对预设测试环境下的芯片进行测试，其特征在于，所述方法包括：确定寄存器测试适配文件，根据所述预设测试环境下的寄存器描述文件确定寄存器测试适配文件，所述寄存器测试适配文件与预先确定的测试用例模板形式相适配；构建测试用例，根据所述寄存器测试适配文件和所述测试用例模板构建测试用例，并执行所述测试用例，以对所述芯片进行测试；所述确定寄存器测试适配文件还包括，在所述预设测试环境发生变更时，响应于所述变更，确定寄存器描述文件的变更信息；根据所述变更信息，变更所述寄存器测试适配文件；所述根据所述预设测试环境下的寄存器描述文件确定寄存器测试适配文件，包括：获取所述预设测试环境对应的协议信息；在所述协议信息中提取寄存器任务分配列表，将所述寄存器任务分配列表作为所述寄存器描述文件；将所述寄存器任务分配列表转化为寄存器测试用列表，将所述寄存器测试用列表作为所述寄存器测试适配文件。

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