恭喜中国科学院高能物理研究所朱佩平获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院高能物理研究所申请的专利相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115308202B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110496934.9，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质是由朱佩平;何其利;王研;张凯;朱中柱;袁清习;黄万霞设计研发完成，并于2021-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质，该显微镜包括依次排布的点阵靶环光源、孔光阑、样品台、波带片物镜、点阵相移环和探测器。本申请通过波带片物镜将点阵靶环光源成像在点阵相移环上，各个点源像在该点阵相移环上都有唯一对应的相位滤波点，由于点源像和相位滤波点比较小，因此在放入样品之后，绝大部分低级衍射光都能从相位滤波点旁边不受阻挡地通过，从而最大限度消除产生光晕伪影的原因，结合相移简便成像方法，实现相移定量成像的目的。
本发明授权相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种相位衬度显微镜，其特征在于，所述显微镜包括依次排布的点阵靶环光源、孔光阑、样品台、波带片物镜、点阵相移环和探测器，所述点阵相移环上相位滤波点的直径小于，其中，表示点阵相移环和波带片物镜之间的距离，表示波带片物镜的直径，表示样品台处物面视场宽度对应的像素数，表示样品台处物面和波带片物镜之间的距离；所述点阵靶环光源上点源的直径小于，其中，表示点阵靶环光源和波带片物镜之间的距离。
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