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龙图腾网恭喜美光科技公司申请的专利智能存储器装置测试架获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112992263B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011510696.4，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权智能存储器装置测试架是由G·D·哈默;M·R·斯皮卡;D·谢泼德;P·卡拉赫尔;J·达罗查沙维斯设计研发完成，并于2020-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本智能存储器装置测试架在说明书摘要公布了：本申请涉及一种智能存储器装置测试架。一种测试架包含两个或更多个存储器装置测试板，其中每个存储器装置测试板包含两个或更多个存储器装置测试资源。所述两个或更多个存储器装置测试板中的每一个包含被分配给对应存储器装置测试板的所述存储器装置测试资源的单独处理装置。测试板的处理装置检测第一存储器子系统已与所述对应存储器装置测试板的第一存储器装置测试资源接合。所述处理装置识别将针对所述第一存储器子系统的第一存储器装置执行的第一测试，其中所述第一测试包含要在执行所述第一测试时执行的一或多个第一测试指令。所述处理装置使所述一或多个第一测试指令传输到所述第一存储器子系统，其中所述第一测试通过在所述第一存储器子系统处执行所述一或多个第一测试指令来执行。

本发明授权智能存储器装置测试架在权利要求书中公布了：1.一种测试架，其包括：多个存储器装置测试板，其各自包括多个存储器装置测试资源，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个包括被分配给对应存储器装置测试板的所述多个存储器装置测试资源的单独处理装置，并且其中所述多个存储器装置测试资源中的每一个包括一或多个单独测试条件组件，并且其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述单独处理装置将执行包括以下各项的操作：检测第一存储器子系统的一或多个输入输出IO组件已与所述对应存储器装置测试板的所述多个存储器装置测试资源中的第一存储器装置测试资源的一或多个对应IO组件接合，其中所述第一存储器子系统包括第一存储器子系统控制器和第一存储器装置；识别将针对所述第一存储器子系统的所述第一存储器装置执行的第一测试，其中所述第一测试包括要在执行所述第一测试时执行的一组第一测试指令，并且其中所述一组第一测试指令中的一或多个指令用于使所述第一存储器装置测试资源的一或多个第一测试条件组件产生当所述第一测试在所述第一存储器装置处执行时施加到所述第一存储器子系统的第一测试条件；以及使所述一组第一测试指令中的一或多个指令经由所述第一存储器装置测试资源的所述IO组件中的所述一或多个传输到所述第一存储器子系统处的所述第一存储器子系统控制器，其中所述第一存储器子系统控制器将通过在所述第一存储器子系统处针对所述第一存储器装置执行所述一组第一测试指令中的所述一或多个指令来执行所述第一测试。

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