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龙图腾网恭喜中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119935368B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510421862.X，技术领域涉及：G01L1/24；该发明授权一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法是由高波;李强;王凤蕊;魏小红;刘昂;何宇航;柴立群;李东;石振东设计研发完成，并于2025-04-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法，属于光学测量技术领域，其目的在于解决现有技术中存在的玻璃应力双折射测量效率低的技术问题。包括：将待测样品、14波片移出测量光路，旋转起偏器找到消光位置并在附近旋转起偏器N个角度，得到角度；保持起偏器与检偏器不变，将14波片移入测量光路中，旋转14波片，找到消光位置；在消光位置附近旋转起偏器N个角度，得到角度；保持14波片和检偏器位置、方向不变，将待测样品移入起偏器与14波片之间的测量光路中；通过起偏旋转机构旋转起偏器，当起偏器与参考坐标系x轴的夹角分别为0°、60°、120°时，通过CCD相机得到三幅图像的光强，并根据三个光强得到待测样品的应力双折射。

本发明授权一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法在权利要求书中公布了：1.一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法，其特征在于：测量光路包括依次设置的平行光源、起偏器、14波片、检偏器、成像镜头以及CCD相机；起偏器安装于起偏旋转机构上，14波片安装于波片旋转及位移机构上，待测样品通过水平位移机构安装于起偏器、14波片之间；测量步骤具体为：步骤1，将待测样品、14波片移出测量光路，保持检偏器方向不变，通过起偏旋转机构逆时针旋转起偏器，找到消光位置；在消光位置附近通过起偏旋转机构旋转起偏器N个角度，并通过最小二乘拟合函数，得到角度；步骤2，保持起偏器与检偏器呈正交状态且方向不变，将14波片移入起偏器与检偏器之间的测量光路中，通过波片旋转及位移机构逆时针旋转14波片，找到消光位置；在消光位置附近通过起偏旋转机构旋转起偏器N个角度，通过最小二乘拟合函数，得到角度；步骤3，保持14波片和检偏器位置、方向不变，将待测样品移入起偏器与14波片之间的测量光路中；通过起偏旋转机构旋转起偏器，当起偏器与参考坐标系x轴的夹角分别为0°、60°、120°时，通过CCD相机得到三幅图像的光强、、，并根据光强、、得到待测样品的应力双折射；步骤4，移动待测样品，重复步骤3，测得待测样品的不同位置的应力双折射分布。

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