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龙图腾网恭喜杭州高谱成像技术有限公司申请的专利一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119854657B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510336615.X，技术领域涉及：H04N25/13；该发明授权一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法及系统是由赵云龙;江晓欣;潘明忠;马强设计研发完成，并于2025-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法及系统，包括基于高光谱相机可测量的理论波长范围和实际波长范围，确定一级光谱与二级光谱的理论重叠波长，得到重叠区域内二级光谱实际波长范围；调整积分时间，在重叠区域内二级光谱实际波长范围内，分析每个波段的一级光谱强度与二级光谱强度之间的对应关系得到关系参数，得到特征参数矩阵；根据重叠区域内二级光谱实际波长范围以及特征参数矩阵插值生成重叠波长范围的二级光谱数据；从原始光谱中滤除二级光谱数据，获得最终高光谱数据，实现滤除高光谱相机中的二级光谱，解决光栅分光时产生的邻级光谱重叠问题，减少二级光谱对一级光谱的干扰，提高光谱分析的准确性。

本发明授权一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于高光谱相机二级光谱滤除方法，其特征在于，包括：S1：基于高光谱相机可测量的理论波长范围和实际波长范围，基于衍射理论确定一级光谱与二级光谱的理论重叠波长，得到重叠区域内二级光谱实际波长范围；S2：调整积分时间，在重叠区域内二级光谱实际波长范围内，分析每个波段的一级光谱强度与二级光谱强度之间的对应关系得到关系参数，将关系参数作为特征参数填入特征矩阵，得到重叠区域内二级光谱实际波长范围特征参数矩阵，包括：S2.1：调整积分时间T1-Tn，测量重叠区域内二级光谱实际波长范围内每个波长下，不同积分时间的一级光谱强度和二级光谱强度的平均值，得到若干组一级光谱强度平均值和若干组二级光谱强度平均值；S2.2：将若干组一级光谱强度平均值和若干组二级光谱强度平均值进行拟合得到该重叠区域内二级光谱实际波长范围内任一波长段下一级光谱强度和二级光谱强度的关系式；S2.3：将波长和其对应关系式中的参数作为特征参数填入特征矩阵，得到重叠区域内二级光谱实际波长范围的特征参数矩阵；S3：根据每一个波长在特征矩阵中的位置，提取重叠区域内二级光谱实际波长范围对应的特征参数，对特征参数进行线性插值生成重叠波长范围的二级光谱数据；S4：从原始光谱中滤除二级光谱数据，获得最终高光谱数据。

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