买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜深圳市芯海微电子有限公司申请的专利一种多通道芯片封装测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619814B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510170781.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种多通道芯片封装测试方法及系统是由胡志东;赵志勇;蔡建军;侬忠胜设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多通道芯片封装测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多通道芯片封装测试方法；包括以下具体步骤：建立数据集；获取同一型号多通道芯片在不同电路中的运行数据；数据预处理；对采集到的原始运行数据进行数据清洗以及归一化处理；数据统计与分析；对预处理后的数据进行统计分析；预测模型的建立；建立基于卷积神经网络CNN的特征识别模型；通过迭代训练得到最优模型；模型的验证；使用芯片的型号以及所在电路的类型作为输入，使用预测模型输出预测的伪随机测试向量算法以及预测的种子值；使用预测的伪随机测试向量算法和种子值进行自测试；对测试结果进行汇总以验证模型的预测准确度；使用本方案可以大大提高自测试的准确率以及测试效率，有利于尽早发现芯片的瑕疵以及潜在缺陷。

本发明授权一种多通道芯片封装测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种多通道芯片封装测试方法，其特征在于：包括以下具体步骤：S1，建立数据集；获取同一型号多通道芯片在不同电路中的运行数据；S2，数据预处理；对采集到的原始运行数据进行数据清洗以及归一化处理；S3，数据统计与分析；对预处理后的数据进行统计分析，将测试通过以及测试失败的数据分别建立数据子集；S4，数据标注；对测试通过数据子集以及测试失败数据子集中的数据分别进行标注；S5，预测模型的建立；建立基于卷积神经网络CNN的特征识别模型；设置训练参数：设置初始学习率，采用学习率衰减算法；通过迭代训练得到最优模型；S6，模型的验证；使用芯片的型号以及所在电路的类型作为输入，使用预测模型输出预测的伪随机测试向量算法以及预测的种子值；使用预测的伪随机测试向量算法和种子值输入LogicBIST进行自测试；对测试结果进行汇总以验证模型的预测准确度；其中，步骤S1中以多通道芯片的型号建立数据集，将同一型号的芯片运行数据保存在同一数据集中；数据集中根据芯片的应用在不同的电路中，对数据集进行分隔形成多个子集；所采集的多通道芯片包括正常芯片以及故障芯片；步骤S1中采集的芯片运行数据包括输入的额定电流、额定电压、输入信号的频率、该种型号芯片常见的故障类型以及与故障相对应的故障码、检测出该故障时使用的伪随机测试向量算法、种子值；其中，步骤S5中使用标注后的数据集作为模型输入，对卷积神经网络CNN的特征识别模型进行训练；步骤S5中CNN模型的架构包括输入层、卷积层、池化层和全连接层，在训练参数中，初始学习率设定为0.01；使用指数衰减算法对模型进行迭代优化；其中，步骤S6中，模型输出的结果为：预测的伪随机测试向量算法以及预测的种子值；使用该预测的伪随机测试向量算法以及种子值，使用随机的芯片，通过芯片自带的LogicBIST进行自测试；通过测试结果验证是否能识别芯片的故障与否；统计合格率，重复执行步骤S5-S6直至合格率满足预期。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市芯海微电子有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区新能源一路宝龙智造园4号厂房A栋101、201、301；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。