恭喜合肥康芯威存储技术有限公司王守磊获国家专利权
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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试方法及测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119495353B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510073524.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置是由王守磊;苏忠益设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储芯片的测试方法及测试装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：向存储芯片写入填充数据，直至填充数据填满存储器；开启存储芯片的缓存功能，并向存储芯片中写入测试数据，每个数据单元中所述测试数据的数据格式与写入顺序相关，且每个所述数据单元中写入的所述测试数据的数据格式相同；当向所述存储芯片中写入的所述测试数据的数据量达到设定阈值时，在向所述存储芯片中写入所述测试数据的过程中，断开所述存储芯片的供电；以及依据所述存储器中最后写入的所述测试数据和写缓存器中最后写入的所述测试数据获取写缓存器的容量。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置，可获取写缓存器的容量。
本发明授权一种存储芯片的测试方法及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：向存储芯片写入填充数据，直至填充数据填满存储器；开启所述存储芯片的缓存功能，并向所述存储芯片中写入测试数据，每个数据单元中所述测试数据的数据格式与写入顺序相关，且每个所述数据单元中写入的所述测试数据的数据格式相同，且所述填充数据与所述测试数据的数据格式不同，所述填充数据的值大于所述存储器中所述数据单元的数量；当向所述存储芯片中写入的所述测试数据的数据量达到设定阈值时，在向所述存储芯片中写入所述测试数据的过程中，断开所述存储芯片的供电；以及依据所述存储器中最后写入的所述测试数据和写缓存器中最后写入的所述测试数据获取写缓存器的容量。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥康芯威存储技术有限公司，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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