恭喜合肥康芯威存储技术有限公司祝欣获国家专利权
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龙图腾网恭喜合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115148271B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210924327.2，技术领域涉及：G11C29/10；该发明授权一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质是由祝欣设计研发完成，并于2022-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储芯片的测试方法，至少包括：提供一待测芯片，并在待测芯片上配置测试单元；向待测芯片写入预设信息并读出，获得待校验存储数据；通过测试单元处理待校验存储数据，获得触发数据，并累加部分触发数据，获取待测芯片的累和校验信息；对多个累和校验信息进行聚类处理，获取多个累和校验信息的聚类中心数据，并根据聚类中心数据和待测芯片的地址数据，获得对照信息；以及对比对照信息和累和校验信息，若对照信息和累和校验信息不一致，将待测芯片作为废片处理。本发明的提供了一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质，能够低成本且高效率地检测出缺陷芯片。
本发明授权一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括：提供一待测芯片，并在所述待测芯片上配置测试单元；向所述待测芯片写入预设信息并读出，获得待校验存储数据；通过所述测试单元处理所述待校验存储数据，获得触发数据，并累加部分所述触发数据，获取所述待测芯片的累和校验信息；对多个所述累和校验信息进行聚类处理，获取多个所述累和校验信息的聚类中心数据，并根据所述聚类中心数据和所述待测芯片的地址数据，获得对照信息；以及对比所述对照信息和所述累和校验信息，若所述对照信息和所述累和校验信息不一致，将所述待测芯片作为废片处理。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥康芯威存储技术有限公司，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦6105室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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