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龙图腾网恭喜青岛青软晶尊微电子科技有限公司申请的专利一种集成电路最差性能处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119670661B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510198642.5，技术领域涉及：G06F30/367；该发明授权一种集成电路最差性能处理方法是由马艳辉;张侠;李克坚;苑芳设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路最差性能处理方法在说明书摘要公布了：本申请公开了本申请提出了一种集成电路最差性能处理方法，涉集成电路领域，包括：采用修正的正态分布累积分布函数CDF来描述失效率与电路性能之间的非线性，引入偏斜度参数和峰度参数；对采样点进行权重计算，突出失效边界附近的重要样本，并在局部区域内采用加权最小二乘回归构建局部线性模型。在全局尺度上，通过对采样矩阵进行对数变换，将特征分布从非线性转化为近似线性，并采用正交匹配追踪算法构建稀疏的全局线性模型，提高了模型的泛化能力和解释性。最后，该方法以修正高斯函数计算的6σ处电路性能预测值为目标，根据最差性能点的位置，灵活选择全局或局部线性模型作为约束条件，迭代求解最优解，有效平衡了估计精度和计算效率。

本发明授权一种集成电路最差性能处理方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路最差性能处理方法，其特征在于，包括： S1，获取集成电路的工艺参数和器件参数，构建数据集D； S2，计算数据集D中每个采样点的权重，并计算采样点的电路性能仿真结果对应的失效率； S3，根据和，构建电路性能向量y和失效率向量ρ，将y中的元素按照从小到大进行排序，得到排序后的电路性能向量； S4，根据上一步迭代得到最优的最差性能点x*确定失效边界，在失效边界确定的范围内重采样，得到采样矩阵X； S5，对X中的目标变量进行对数变换，得到变换后的采样矩阵； S6，根据和ρ，利用高斯函数计算处的失效率所对应的电路性能预测值； S7，以为自变量，以y为因变量，在失效边界的局部区域内，采用加权最小二乘回归方法构建局部线性模型； S8，以为自变量，以y为因变量，采用交叉验证的正交基追踪算法构建全局线性模型； S9，以电路性能预测值为目标构建优化问题，当最差性能点x位于失效边界的局部区域内时，使用为约束条件；否则使用为约束条件，求解优化问题得到最优的最差性能点x*； S10，利用x*更新数据集D； S11，重复以上迭代，直至满足预设的收敛条件； 失效率的计算公式为： 其中，表示预设的性能阈值，CDF表示修正的正态分布的累积分布函数，和分别表示采样点的电路性能仿真结果的均值和标准差，和是引入的两个参数，用于描述分布的非正态特征； 修正的正态分布的累积分布函数CDF计算公式为： 其中，Φ表示标准正态分布的累积分布函数。

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