恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))赵玥获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114331983B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111569908.0,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质是由赵玥;罗军;王小强;邱宝军;罗道军设计研发完成,并于2021-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质在说明书摘要公布了:本申请涉及划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待检测的芯片图像,并基于所述芯片图像和已训练的划痕检测模型中的改进VGG16网络,确定第一特征图集,其中,所述第一特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图;基于所述第一特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的附加特征提取网络,确定第二特征图集,其中,所述第二特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图;基于所述第一特征图集、所述第二特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的检测网络,得到划痕检测结果。采用本方法能够提高对芯片进行划痕检测的准确度。
本发明授权划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种划痕检测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取待检测的芯片图像,并基于所述芯片图像和已训练的划痕检测模型中的改进VGG16网络,确定第一特征图集,其中,所述第一特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图; 基于所述第一特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的附加特征提取网络,确定第二特征图集,其中,所述第二特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图; 基于所述第一特征图集、所述第二特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的检测网络,得到划痕检测结果; 所述改进VGG16网络包括级联的:第一卷积模块、第二卷积模块、第三卷积模块、第四卷积模块、第五卷积模块、第六卷积模块和第七卷积模块;所述第一特征图集包括第一特征图、第二特征图和第三特征图;所述基于所述芯片图像和已训练的划痕检测模型中的改进VGG16网络,确定第一特征图集,包括: 将所述芯片图像输入所述改进VGG16网络,将所述第二卷积模块的输出项作为第一特征图,将所述第三卷积模块的输出项作为第二特征图,将所述第七卷积模块的输出项作为第三特征图; 所述附加特征提取网络包括级联的:第一特征提取模块、第二特征提取模块和第三特征提取模块;所述第二特征图集包括第四特征图、第五特征图和第六特征图;所述基于所述第一特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的附加特征提取网络,确定第二特征图集,包括: 将所述第三特征图输入所述附加特征提取网络,将所述第一特征提取模块的输出项作为第四特征图,将所述第二特征提取模块的输出项作为第五特征图,将所述第三特征提取模块的输出项作为第六特征图,第三特征图是第一特征图集中尺寸最小的特征图。
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