爱德万测试公司简·海瑟尔巴特获国家专利权
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龙图腾网获悉爱德万测试公司申请的专利测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113661397B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201980095285.2,技术领域涉及:G01R31/302;该发明授权测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的方法是由简·海瑟尔巴特;何塞·莫雷拉设计研发完成,并于2019-08-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的方法在说明书摘要公布了:根据本发明的一个实施例是一种用于测试包括有源电路和耦合到该电路的天线的DUT的测试布置。所述测试布置包括DUT位置和探针。此外,所述测试布置包括接地区域,其被配置为用作DUT的天线的天线接地区域。探针可以定位在接地区域附近。接地区域包括微小开口,使得天线馈电阻抗不受影响或不受显著影响。DUT位置处于接地区域的第一侧,而探针布置在接地区域的第二侧。探针适于经由开口弱耦合到DUT的天线,以便探测当DUT的电路对DUT的天线馈电时的信号,和或以便将由天线馈送到DUT的电路的信号耦合到天线。
本发明授权测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的方法在权利要求书中公布了:1.一种测试布置(100、200、300、850),用于测试被测装置DUT(110、210、310、410、860),所述被测装置包括电路(120、320、420、520)和耦合到所述电路的天线(130、270、330、430、530、870), 其中所述测试布置包括DUT位置(140、340、820)和探针(180、250、380、810), 其中所述测试布置包括接地区域(160、230、360、460、830),所述接地区域被配置为用作所述DUT的所述天线的天线接地区域, 其中所述接地区域包括开口(170、240、370), 其中所述DUT位置处于所述接地区域的第一侧,以及 其中所述探针被布置在所述接地区域的第二侧并适于经由所述开口耦合到所述DUT的所述天线, 以便探测当所述DUT的所述电路对所述DUT的所述天线馈电时的信号(890)和或 以便将由所述天线馈送到所述DUT的所述电路的信号耦合到所述天线。
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