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申请/专利权人：上海华虹NEC电子有限公司
摘要：本发明公开了一种使用ALPG测试仪进行DualPort SRAM测试的装置，该装置包括ALPG测试仪和DP SRAM器件，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，测试时，DP SRAM器件两组独立的地址系统中除最高地址位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个地址位都相互连接，两个最高地址位相互不连接，并且有效时的最高地址位电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。本发明避开了ALPG测试系统在测试DP SRAM时的系统限制，最大程度发挥ALPG测试系统在测试memory产品时的高效便利的特点，提高了测试效率，节省大量测试时间。
主权项：一种使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置，该装置包括ALPG测试仪和DP SRAM器件，其特征在于，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，在ALPG测试仪上的探针卡基板或Loadboard端进行通道连接设置，使DP SRAM器件两组独立的地址系统中除最高位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个位都相互连接，两个最高位相互不连接，并且有效时的电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海华虹NEC电子有限公司 使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置
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