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申请/专利权人：北京市海淀区科源仪器厂
申请日：2004-05-28
公开（公告）日：2005-04-27
公开（公告）号：CN2695955Y
专利技术分类：.入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N21/63）[2006.01]
专利摘要：一种文检、痕检仪，包括滤光片及其驱动机构，驱动机构与机体连接，滤光片与驱动机构传动连接，所述的滤光片为长条形状，其滤光波长沿其长方向连续变化；所述的驱动机构为直线移动驱动机构，由此带动滤光片沿其长方向直线往复移动。本实用新型采用的滤光片上的滤光薄膜的滤光波长为连续变化，滤光波段增加百倍以上，大大提高了应用精度和适用范围。另外其直线长条结构，可简化驱动机构，减小驱动装置的体积，使整机性能有很大的提高。
专利权项：1、一种文检、痕检仪，包括滤光片及其驱动机构，驱动机构与机体连接，滤光片与驱动机构传动连接，其特征在于：所述的滤光片为长条形状，其滤光波长沿其长方向连续变化；所述的驱动机构为直线移动驱动机构，由此带动滤光片沿其长方向直线往复移动。
百度查询： 北京市海淀区科源仪器厂 文检、痕检仪
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