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申请/专利权人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司
申请日：2018-05-11
公开（公告）日：2018-10-12
公开（公告）号：CN108645793A
专利技术分类：.便于进行光学测试的装置或仪器[2006.01]
专利摘要：本申请公开一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。所述样品分析组件包括：载台，设有用于放置样品的承载区；检测机构，设于承载区的上方，用于获取样品的膜内异物的位置；扎针机构，设置于载台上，所述扎针机构包括针，所述针用于扎出样品的膜内异物。基于此，本申请能够有利于对膜内异物进行成分分析。
专利权项：1.一种样品处理组件，其特征在于，所述样品处理组件包括：载台，所述载台上设有用于放置样品的承载区；检测机构，设置于所述承载区的上方；扎针机构，设置于所述载台上，所述扎针机构包括朝向所述承载区延伸的针。
百度查询： 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法
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