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申请/专利权人：特克特朗尼克公司
申请日：2001-04-28
公开（公告）日：2001-11-14
公开（公告）号：CN1322070A
专利技术分类：
专利摘要：本发明提供了一种品质原因量度显示,它通过产生一个标准的数字调制的RF发射机信号而形成。检测仪器用于测量发射机信号的一个总体品质量度,以及每一个发射机参数的单独影响。每一个测量的参数用于修正标准发射机信号,并运用品质量度运算法则来确定品质量度。单独参数品质量度与总体品质量度进行比较,以确定每一个参数对总体品质量度的影响百分比。操作者从影响百分比中可以知道,当总体品质量度超过极限时,在发射机信号中什么产生了问题。
专利权项：1．一种品质原因量度显示方法，包括以下步骤：产生一个标准信号；通过多个测量的参数中的每一个单独修正该标准信号，以产生一个修正的信号；对每一个参数的修正信号运用一个总体品质量度运算法则，以产生对总体品质量度的单独影响图表；和将单独影响与测算的总体品质量度比较，以产生每一个参数对测算的总体品质量度的影响的百分比，而用于显示。
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皖公网安备 34010402703815号