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IGBT以及IGBT的制造方法专利

发布时间:2019-03-08 10:09:26 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> IGBT以及IGBT的制造方法

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申请/专利权人:丰田自动车株式会社

申请日:2012-02-14

公开(公告)日:2014-10-22

公开(公告)号:CN104115274A

专利技术分类:.....由绝缘栅产生场效应的[2006.01]

专利摘要:本发明提供一种IGBT的制造方法,所述IGBT具有:n型的发射区;p型的顶部体区;n型的中间区;p型的底部体区;n型的漂移区;p型的集电区;多个沟槽,其从半导体基板的上表面起,贯穿发射区、顶部体区、中间区以及底部体区并到达漂移区;栅电极,其被形成在沟槽内。该制造方法包括:在半导体基板的上表面上形成沟槽的工序;在沟槽内形成绝缘膜的工序;在绝缘膜形成之后,在半导体基板上以及沟槽内形成电极层的工序;使电极层的上表面平坦化的工序;在使电极层的上表面平坦化之后,从半导体基板的上表面侧将n型杂质注入至中间区的深度的工序。

专利权项:一种绝缘栅双极性晶体管,具有:n型的发射区;p型的顶部体区,其被形成在发射区的下侧;n型的中间区,其被形成在顶部体区的下侧;p型的底部体区,其被形成在中间区的下侧;n型的漂移区,其被形成在底部体区的下侧;p型的集电区,其与漂移区相接;多个沟槽,其从半导体基板的上表面起,贯穿发射区、顶部体区、中间区以及底部体区并到达漂移区;栅电极,其被形成在沟槽内,并隔着绝缘膜而与发射区和漂移区之间的顶部体区、中间区以及底部体区对置,存在于两个栅电极之间的中间区的下端的深度的偏差在110nm以下。

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