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申请/专利权人：富士通天株式会社;FDK株式会社
申请日：2015-07-23
公开（公告）日：2016-11-23
公开（公告）号：CN106164684A
专利技术分类：.电磁场特性的测量[2006.01]
专利摘要：本发明根据印刷电路的近场的磁场强度算出印刷电路的远场电场强度。运算装置30对印刷电路40的部件面侧的近磁场强度分布的测定结果进行分析，从而确定印刷电路40的近磁场的评价对象频率分量的最大强度、和印刷电路40的近磁场的评价对象频率分量的强度从最大强度衰减第一既定比率的范围的面积S1，并根据面积S1、产生所述最大强度的近磁场的电流值、评价对象频率、距离r、比例系数算出与印刷电路40相距距离r的位置的评价对象频率下的远场电场强度。
专利权项：一种电场强度算出程序，其特征在于，用于使计算机作为如下单元发挥功能：确定单元，对印刷电路的部件面侧的近磁场强度分布的测定结果进行分析，从而确定所述印刷电路的近磁场的评价对象频率分量的最大强度、和将所述印刷电路的近磁场的评价对象频率分量的强度从所述最大强度衰减第一既定比率的位置划定为边界的所述印刷电路的范围的面积S1；以及算出单元，使用所述面积S1、在流过所述印刷电路的部件面内的情况下产生所述最大强度的近磁场的电流的电流值id、距离r、评价对象频率f以及预先设定的系数Kd，利用以下的算出式算出所述印刷电路的与该印刷电路相距所述距离r的位置的评价对象频率下的远场电场强度E，[数学式1]E=KdS1idf2r.]]
百度查询： 富士通天株式会社 FDK株式会社 电场强度算出程序、电场强度算出装置及电场强度算出方法
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