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申请/专利权人：莱卡地球系统公开股份有限公司
申请日：2008-10-24
公开（公告）日：2014-03-12
公开（公告）号：CN101836077B
专利技术分类：
专利摘要：本发明涉及基准线投影仪器1，该基准线投影仪器1包括沿规定的基准路径RP引导基准光束RS的光电测距单元，其中基准路径的至少一部分可在经过人眼和或检测器时被检测为基准线。在经过基准路径RP时，对该基准路径RP上的至少一个点Pi尤其是对多个点Pi进行测距，做法是发射与基准光束RS平行或同轴的测量光束，或者利用基准光束RS作为测量光束。在接收到反射测量光束的一部分后，根据该部分得到信号，根据该信号确定到至少一个点Pi的距离，其中，沿该基准路径RP的引导至少重复一次，当每次经过基准路径RP时，对每个点Pi得到距离Di或距离相关参数。
专利权项：一种用于具有光电测距仪的基准线投影仪器（1）的测距方法，该方法包括以下步骤：发出并沿规定的基准路径（RP）引导基准光束（RS），其中该基准路径（RP）的至少一部分在经过人眼和或检测器时能被检测为基准线，通过以下操作测量至该基准路径（RP）上的至少一个点（Pi）的距离：发射与基准光束（RS）平行或同轴的测量光束并且沿基准路径（RP）引导测量光束，或者使用基准光束（RS）作为测量光束，接收从该至少一个点（Pi）反射的测量光束部分并且根据所述部分得到至少一个信号，以及根据该至少一个信号确定至该至少一个点（Pi）的距离（Di），其特征是，至少自动重复一次沿基准路径（RP）引导测量光束和基准光束（RS）或用作测量光束的基准光束（RS），并且在每次经过基准路径（RP）时，针对该至少一个点（Pi），总是求出测量光束的传播时间或相位形式的距离相关参数（Dij），其中，基于角度同步地多次经过同一测量路径，多次扫描该至少一个点（Pi）。
百度查询： 莱卡地球系统公开股份有限公司 用于基准线投影仪器的测距方法和该基准线投影仪器
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