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申请/专利权人：三井造船株式会社
申请日：2010-01-15
公开（公告）日：2011-12-07
公开（公告）号：CN102272575A
专利技术分类：..电光测试[2006.01]
专利摘要：一种荧光检测装置和荧光检测方法，其中，为了除去测量对象物发出的自发荧光，首先按照测量对象物受到强度调制的激光照射后所发出的荧光强度高于受到激光照射后测量对象物发出的自发荧光强度的方式在第一波段接收测量对象物发出的荧光，而且在与第一波段不同的第二波段接收自发荧光，然后使所生成的第一荧光信号和自发荧光的荧光信号与激光的调制信号进行混合，由此生成第一荧光数据和自发荧光的荧光数据，然后从第一荧光数据中减去将该自发荧光的荧光数据与预先规定的常数相乘而得到的结果，由此生成第三荧光数据，利用该第三荧光数据计算出荧光强度。
专利权项：一种荧光检测装置，接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光，并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括：光源部，以设定好的频率对具有使测量对象物激发后发出荧光的波长的激光进行强度调制，并将其作为测量对象物的照射光进行发射；受光部，包括：第一受光元件，按照测量对象物被照射光照射后发出的第一荧光强度高于测量对象物被激光照射后发出的第二荧光强度的方式在与所述第一荧光相对应地进行设定的第一波段接收所述第一荧光，并输出第一荧光信号；第二受光元件，在与所述第一波段不同的第二波段接收测量对象物发出的第二荧光并输出第二荧光信号；第一处理部，其中，通过将被输出的所述第一荧光信号与以所述频率对激光进行强度调制的调制信号进行混合，由此生成包括所述第一荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第一荧光数据，且通过对被输出的所述第二荧光信号与所述调制信号进行混合，由此生成包括所述第二荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第二荧光数据；第二处理部，包括：荧光除去部，从所述第一荧光数据中减去将所生成的所述第二荧光数据与预先规定的常数相乘后得到的结果，由此生成第三荧光数据；荧光强度计算部，利用所生成的所述第三荧光数据计算出所述第一荧光的荧光强度。
百度查询： 三井造船株式会社 荧光检测装置和荧光检测方法
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