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申请/专利权人：阿自倍尔株式会社

申请日：2012-03-31

公开（公告）日：2015-06-24

公开（公告）号：CN102739238B

专利技术分类：

专利摘要：本发明提供一种即使输入信号在时间上非对称也可以对计数结果进行高精度地校正的计数装置。计数器13能对二值化信号的运转周期进行计数。计数结果校正部14分别对从信号的上升到下降为止的第1运转周期及从信号的下降到上升为止的第2运转周期，制作运转周期的频数分布，求出第1运转周期的代表值TH的0倍以上且不到1倍的长度的第1运转周期的数量的总和、第2运转周期的代表值TL的0倍以上且不到1倍的长度的第2运转周期的数量的总和、{TH+n-0.5×TH+TL}以上且不到{TH+n+0.5×TH+TL}的长度的第1运转周期的数量的总和、以及{TL+n-0.5×TH+TL}以上且不到{TL+n+0.5×TH+TL}的长度的第2运转周期的数量的总和，从而对计数结果进行校正。

专利权项：一种计数装置，其在特定的物理量和信号的数量具有线性关系、且所述特定的物理量为一定的情况下，对为大致单一频率的所述信号进行计数，其特征在于，该计数装置包括：二值化单元，其将输入信号进行二值化；信号计数单元，其在一定的计数期间中，对从所述二值化单元输出的二值化信号的运转周期的数量进行计数；运转周期测定单元，其在每次输入信号的运转周期部分时，对所述计数期间中的所述二值化信号的运转周期进行测定；频数分布制作单元，其根据所述运转周期测定单元的测定结果分别对从二值化信号的上升到接下来的下降为止的第1运转周期及从二值化信号的下降到接下来的上升为止的第2运转周期，制作所述计数期间中的二值化信号的运转周期的频数分布；代表值算出单元，其根据所述第1运转周期的频数分布计算出所述第1运转周期的分布的代表值TH，并根据所述第2运转周期的频数分布计算出所述第2运转周期的分布的代表值TL；校正值算出单元，其根据所述运转周期测定单元的测定结果和所述代表值算出单元的计算结果，求出所述代表值TH的0倍以上且不到1倍的长度的第1运转周期的数量的总和NsH、所述代表值TL的0倍以上且不到1倍的长度的第2运转周期的数量的总和NsL、{TH+n‑0.5×TH+TL}以上且不到{TH+n+0.5×TH+TL}的长度的第1运转周期的数量的总和NwnH和{TL+n‑0.5×TH+TL}以上且不到{TL+n+0.5×TH+TL}的长度的第2运转周期的数量的总和NwnL，基于该些频数NsH、NsL、NwnH、NwnL对所述计数单元的计数结果进行校正，以计算出所述输入信号的数量，其中，n为1以上的自然数，将所述信号计数单元的计数结果设为N，将所述第1运转周期与所述第2运转周期的和能取得的最大值设为TH+TLmax时，所述校正值算出单元按照下式N=12[N-NsH+NsL+n=1nmax{2nNwnH+NwnL}]]]nmaxTH+TLmaxTH+TL]]求出校正后的计数结果N′。

百度查询： 阿自倍尔株式会社 计数装置以及计数方法