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试样分析方法及试样分析装置专利

发布时间:2019-03-12 14:02:45 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 试样分析方法及试样分析装置

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申请/专利权人:希森美康株式会社

申请日:2006-03-23

公开(公告)日:2012-06-27

公开(公告)号:CN102519887A

专利技术分类:...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术[2006.01]

专利摘要:本发明提供一种试样分析方法,具备步骤:向标本照射光线、从所述标本中获取标本光学信息;通过分析所述标本光学信息计算出所述标本的吸光度,比较计算出的吸光度和临界值,以此分析所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量;将所述标本与试剂混合、调制分析用试样;以及向所述分析用试样照射光线,从分析用试样获取试样光学信息,并通过处理试样光学信息,对分析用试样进行分析,其中,在对分析用试样进行分析这一步骤中,根据所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量,选择适合分析用的光的波长,并对与选择的波长的光相应的试样光学信息进行处理,以此分析所述分析用试样。本发明还提供一种试样分析装置。

专利权项:一种试样分析方法,具备以下步骤:向标本照射光线、从所述标本中获取标本光学信息的步骤;通过分析所述标本光学信息计算出所述标本的吸光度,比较计算出的吸光度和临界值,以此分析所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量的步骤;将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤;以及向所述分析用试样照射光线,从分析用试样获取试样光学信息,并通过处理试样光学信息,对分析用试样进行分析的步骤,其中,在对分析用试样进行分析这一步骤中,根据所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量,选择适合分析用的光的波长,并对与选择的波长的光相应的试样光学信息进行处理,以此分析所述分析用试样。

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