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漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法 

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申请/专利权人:创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司

摘要:一种漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法。漩涡式探针包括一针体、一连接部与一漩涡弹簧。针体的一端具有一针尖。漩涡弹簧连接针体与连接部。漩涡弹簧包含一圈以上的旋绕体,这些旋绕体彼此共平面,且这些旋绕体的轴心与针体的长轴方向正交。故,通过上述架构,漩涡式探针不致于导电接点上横向滑移,降低滑出导电接点的范围的机会,以维持探针与导电接点之间的电接品质及测试性能,以及缩小测试变数。

主权项:1.一种漩涡式探针,其特征在于,包括:一针体,该针体的一端具有一针尖;一连接部;以及一漩涡弹簧,连接该针体与该连接部,该漩涡弹簧包含一圈以上的旋绕体,该些旋绕体彼此共平面,且该些旋绕体的轴心与该针体的长轴方向正交。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 创意电子股份有限公司 台湾积体电路制造股份有限公司 漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法

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