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申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学
摘要：本申请涉及一种基于VanAtta阵的介电常数测量系统和方法。所述系统包括测量天线阵、VanAtta阵和介电常数计算设备。测量天线阵设置在VanAtta阵的远场区，用于发射测量信号和接收测量信号经待测物作用和VanAtta阵反射后的反射信号。VanAtta阵与测量天线阵相对设置，口径大于待测物直径，工作频率和极化方式根据测量信号设置，回溯方向图覆盖测量天线阵。介电常数计算设备根据接收到的反射信号计算待测物的介电常数。上述系统利用VanAtta阵的电磁波回溯功能，自动将经待测物作用的测量信号反射回测量天线阵，可确保测量天线阵处接收到的反射信号的能量和信噪比，提高测量精度及其稳定性。
主权项：1.一种基于VanAtta阵的介电常数测量系统，其特征在于，所述系统包括测量天线阵、VanAtta阵和介电常数计算设备，所述测量天线阵设置在所述VanAtta阵的远场区，用于使用预设的频率和极化方式发射测量信号，以及接收所述测量信号经待测物作用和所述VanAtta阵反射后的反射信号，并将所述反射信号发送至介电常数计算设备；所述VanAtta阵与所述测量天线阵相对设置，所述VanAtta阵的口径大于所述待测物的直径，所述VanAtta阵的工作频率和极化方式根据所述测量信号设置，所述VanAtta阵的回溯方向图覆盖所述测量天线阵；所述介电常数计算设备与所述测量天线阵连接，接收所述测量天线阵发送的所述测量信号的反射信号，根据所述反射信号计算所述待测物的介电常数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 基于Van Atta阵的介电常数测量系统和方法
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