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申请/专利权人：名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
申请日：2019-06-21
公开（公告）日：2020-12-22
公开（公告）号：CN112113486A
专利技术分类：.用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙（G01B5/24优先）[2006.01]
专利摘要：本发明提出一种厚薄规，用于测量物体的间隙的尺寸，厚薄规包括底座、上盖、调整组件以及两测量件。上盖设置于底座上，与底座形成容纳空间，且上盖的顶面设置有刻度区。调整组件沿一移动方向可移动地设置在容纳空间中且部分穿设于上盖，调整组件的宽度在移出容纳空间的方向上逐渐减少。两测量件可移动地设置于底座上并对称地位于调整组件的两侧以将调整组件夹持于其中，每一测量件的部分凸出于上盖并能沿着刻度区移动。当调整组件沿移动方向移动以使调整组件在宽度方向上的两侧逐渐接近间隙的两内壁面时，两测量件在调整组件的推动下沿着刻度区相向移动，当调整组件在宽度方向上的两侧触碰到间隙的两内壁面时，两测量件指示间隙的宽度。
专利权项：1.一种厚薄规，用于测量物体的间隙的尺寸，其特征在于，所述厚薄规包括：底座；上盖，设置于所述底座上，与所述底座形成容纳空间，且所述上盖的顶面设置有刻度区；调整组件，沿移动方向可移动地设置在所述容纳空间中且部分穿设于所述上盖，所述调整组件的宽度在移出所述容纳空间的方向上逐渐减少；以及两测量件，可移动地设置于所述底座上并对称地位于所述调整组件的两侧以将所述调整组件夹持于其中，每一所述测量件的部分凸出于所述上盖并能沿着所述刻度区移动，其中，当所述调整组件沿所述移动方向移动以使所述调整组件在宽度方向上的两侧逐渐接近所述间隙的两内壁面时，所述两测量件在所述调整组件的推动下沿着所述刻度区相向移动，当所述调整组件在宽度方向上的两侧触碰到所述间隙的两内壁面时，所述两测量件指示所述间隙的宽度。
百度查询： 名硕电脑(苏州)有限公司 和硕联合科技股份有限公司 厚薄规
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