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申请/专利权人：眸芯科技(上海)有限公司
摘要：本发明公开了一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用，涉及芯片开发技术领域。所述方法包括步骤：获取待验证的波形生成语言WGL文件，通过脚本将其转成仿真testbench文件和可综合testbench文件；通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。本发明能够确保提供给ATE测试端的WGL文件的正确性，降低了ATE测试的误判率，进而可以缩短芯片的整个开发周期。
主权项：1.一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法，其特征在于包括步骤：获取待验证的波形生成语言WGL文件；通过脚本将前述WGL文件转成基于verilog语言的仿真testbench文件和基于可综合verilog语言的可综合testbench文件，所述可综合testbench文件能够综合成网表；通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 眸芯科技(上海)有限公司 芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用
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