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申请/专利权人:华为技术有限公司
申请日:2021-04-15
公开(公告)日:2022-10-21
公开(公告)号:CN115219034A
专利技术分类:
专利摘要:本申请实施例公开了一种偏振态测量装置,应用于光通信领域。偏振态测量装置包括晶体,反射结构和探测器组。当入射光入射到第一反射结构时,产生第一反射光和第一透射光。第一反射光入射至第二反射结构,产生第二反射光和第二透射光。第二反射光入射至第三反射结构,产生第三反射光和第三透射光。探测器组用于测量第一透射光,第二透射光,第三透射光和第三反射光的四个光强度。四个光强度用于得到入射光的偏振态。本申请中的第一反射光和第二反射光经过晶体,可以增加传输矩阵的数量,从而提高设计偏振态测量装置的灵活性。
专利权项:1.一种偏振态测量装置,其特征在于,包括:晶体,反射结构和探测器组;所述反射结构包括第一反射结构,第二反射结构和第三反射结构;当入射光入射到所述第一反射结构时,产生第一反射光和第一透射光;所述第一反射光入射至所述第二反射结构,产生第二反射光和第二透射光;所述第二反射光入射至所述第三反射结构,产生第三反射光和第三透射光;其中,所述第一反射光和所述第二反射光的传输路径经过所述晶体;所述探测器组用于测量所述第一透射光,所述第二透射光,所述第三透射光和第三反射光的四个光强度,所述四个光强度用于得到所述入射光的偏振态。
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