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申请/专利权人：湖南恩智精测电子技术有限公司
申请日：2022-09-29
公开（公告）日：2022-12-20
公开（公告）号：CN115499010A
专利技术分类：.模/数转换器（H03M1/02至H03M1/10优先）[2006.01]
专利摘要：本发明公开了一种SAR型ADC的采样方法及其SAR型ADC，方法包括获取设定的脉冲频率和脉冲高低电位的占比，计算出脉冲的高电位时间和低电位时间；设定ADC的采样速率；根据设定的ADC采样速率计算ADC的采样时间；根据脉冲时间以及ADC的采样时间计算出每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数；根据设定的ADC采样速率获得该采样速率下的ADC延时时间；根据ADC延时时间过滤掉对应延时时间内的采集数据，获得去除延时的采集数据；根据每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数从去除延时的采集数据中获取有效采集数据。本发明可以在高速的脉冲输出环境下实现精准采样。
专利权项：1.一种SAR型ADC的采样方法，其特征在于，包括以下步骤：参数设置阶段：获取设定的脉冲频率和脉冲高低电位的占比；根据脉冲频率计算出脉冲时间，根据脉冲时间和脉冲高低电位的占比计算出脉冲的高电位时间和低电位时间；根据脉冲的高电位时间和低电位时间设定ADC的采样速率，使ADC的采样速率快于输出脉冲速率；根据设定的ADC采样速率计算ADC的采样时间；根据脉冲时间以及ADC的采样时间计算出每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数；根据设定的ADC采样速率获得该采样速率下的ADC延时时间；数据采集阶段：根据ADC延时时间过滤掉对应延时时间内的采集数据，获得去除延时的采集数据；根据每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数从去除延时的采集数据中获取有效采集数据。
百度查询： 湖南恩智精测电子技术有限公司 SAR型ADC的采样方法及其SAR型ADC
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