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申请/专利权人：科美博阳诊断技术(上海)有限公司
申请日：2021-08-30
公开（公告）日：2023-03-03
公开（公告）号：CN115728230A
专利技术分类：.便于进行光学测试的装置或仪器[2006.01]
专利摘要：本发明提供了一种样本仓、样本架及样本分析仪。样本仓包括横向延伸的底板，在底板上设置有第一定位部，第一定位部构造为用于与样本架底部的第二定位部配合以使样本架相对于底板定位。样本仓还包括相对于底板纵向向上延伸的限位侧壁，限位侧壁构造为垂直于样本架进入样本仓的方向延伸，以用于限制样本架进入样本仓的深度。其中，在限位侧壁上构造有第三定位部，第三定位部构造为用于与样本架的与限位侧壁相对的侧部上的第四定位部配合，以使样本架相对于侧壁定位。
专利权项：1.一种样本仓，包括横向延伸的底板，在所述底板上设置有第一定位部，所述第一定位部构造为用于与样本架底部的第二定位部配合以使所述样本架相对于所述底板定位，所述样本仓还包括相对于底板纵向向上延伸的限位侧壁，所述限位侧壁构造为垂直于所述样本架进入所述样本仓的方向延伸，以用于限制所述样本架进入所述样本仓的深度；其中，在所述限位侧壁上构造有第三定位部，所述第三定位部构造为用于与所述样本架的与所述限位侧壁相对的侧部上的第四定位部配合，以使所述样本架相对于所述侧壁定位。
百度查询： 科美博阳诊断技术(上海)有限公司 样本仓、样本架及样本分析仪
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