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申请/专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日：2022-12-30
公开（公告）日：2023-04-07
公开（公告）号：CN115931930A
专利技术分类：...材料装在容器中，例如行李X射线扫描仪[2018.01]
专利摘要：本发明提供了一种检查设备及其检查方法、检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。检查设备包括直线形轨道，沿横向跨检查通道。衍射检测装置能够沿直线形轨道移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。
专利权项：1.一种检查设备，包括：支架；透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，被所述支架支撑，其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。
百度查询： 清华大学 同方威视技术股份有限公司 检查设备、检查方法和检查系统
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