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申请/专利权人：上海科技大学
申请日：2023-02-21
公开（公告）日：2023-05-26
公开（公告）号：CN116165724A
专利技术分类：.探测，例如，用光垒（用来自目标的反射光入G01S17/00）[2006.01]
专利摘要：本发明涉及一种实时全景太赫兹成像的太赫兹安检仪，来自物方的360°全景景物发出的太赫兹电磁波，经过全景太赫兹光学系统反射后，进入透射式太赫兹成像系统进行汇聚，成像于太赫兹探测器焦平面上，像呈圆环状分布。使得太赫兹成像系统无需转动即可直接完成360°全景环视，获得环形的全景太赫兹图像。然后通过图像处理软件进行映射变换，将环形图像变为符合日常视觉习惯的柱面展开图像，从而可以通过单个太赫兹系统对其周围360°的范围进行实时成像。
专利权项：1.一种实时全景太赫兹成像的太赫兹安检仪，其特征在于，来自物方的360°全景景物发出的太赫兹电磁波，经过全景太赫兹光学系统反射后，进入透射式太赫兹成像系统进行汇聚，成像于太赫兹探测器焦平面上，像呈圆环状分布。
百度查询： 上海科技大学 实时全景太赫兹成像的太赫兹安检仪
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