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校验系统和校验方法专利

发布时间:2023-07-05 21:12:18 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 校验系统和校验方法

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申请/专利权人:欧姆龙(上海)有限公司

申请日:2023-03-31

公开(公告)日:2023-06-30

公开(公告)号:CN116361077A

专利技术分类:..用硬件中的冗余作数据的错误检测或校正[2006.01]

专利摘要:本申请实施例提供一种校验系统和校验方法,校验系统包括:第一处理器,其对数据源的数据进行处理,得到第一处理结果;第二处理器,其对数据源的数据进行处理,得到第二处理结果;以及控制器,其比较第一处理结果与第二处理结果而得到第一比较结果,并将第一比较结果反馈给第一处理器和第二处理器,第一处理器在接收到第一比较结果后再次对数据源的数据进行处理得到第三处理结果,第二处理器在接收到第一比较结果后再次对数据源的数据进行处理得到第四处理结果,控制器比较第三处理结果与第四处理结果而得到第二比较结果。由此,通过两个处理器分别对数据进行处理,并对两个处理器的处理结果进行多次比较,能够提高数据的安全性。

专利权项:1.一种校验系统,其中,所述校验系统包括:第一处理器,其对数据源的数据进行处理,得到第一处理结果;第二处理器,其对所述数据源的数据进行处理,得到第二处理结果;以及控制器,其比较所述第一处理结果与所述第二处理结果而得到第一比较结果,并将所述第一比较结果反馈给所述第一处理器和所述第二处理器,所述第一处理器在接收到所述第一比较结果后再次对所述数据源的数据进行处理得到第三处理结果,所述第二处理器在接收到所述第一比较结果后再次对所述数据源的数据进行处理得到第四处理结果,所述控制器比较所述第三处理结果与所述第四处理结果而得到第二比较结果。

百度查询: 欧姆龙(上海)有限公司 校验系统和校验方法

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