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申请/专利权人：深圳市盛波光电科技有限公司
摘要：本发明提供了一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，包括：步骤S1，裁切偏光片：将偏光片裁切为适合的尺寸；步骤S2，粘贴偏光片：先撕除偏光片上的离型膜，将偏光片贴在金属片上，再撕除偏光片保护膜；步骤S3，老化偏光片：将偏光片投入高温环境箱中按设置时间进行烘烤；步骤S4，光学性能测试：将贴有偏光片的金属片从所述高温环境箱中取出，采用分光光度计测试偏光片老化后的光学性能，并记录数据，计算A700数值。本发明的有益效果是：采用本发明测试方法能在一个小时内，快速测出偏光处的A700值，通过A700值大小可判定偏光片高温耐久性后是否会出现发红现象，能有效防止产品在客户端发生高温发红问题，提高了产品品质。
主权项：1.一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，其特征在于,包括以下步骤：步骤S1，裁切偏光片：将偏光片裁切为适合的尺寸；步骤S2，粘贴偏光片：先撕除偏光片上的离型膜，将偏光片贴在金属片上，再撕除偏光片保护膜；步骤S3，老化偏光片：将经步骤S2处理的偏光片投入高温环境箱中按设置时间进行烘烤；步骤S4，光学性能测试：将贴有偏光片的金属片从所述高温环境箱中取出，采用分光光度计测试偏光片老化后的光学性能，并记录数据，计算A700数值，A700数值表示波长在700nm处的吸光度。
全文数据：
权利要求：
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