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申请/专利权人：联芸科技(杭州)股份有限公司
申请日：2022-07-07
公开（公告）日：2024-01-16
公开（公告）号：CN117407221A
专利技术分类：.在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位[2006.01]
专利摘要：本申请公开了固态硬盘的批量测试方法和批量测试系统。所述批量测试方法包括：在多个测试终端上分别预先安装固态硬盘作为测试对象；将测试任务计划相关联的测试案例集分发给所述多个测试终端；在所述多个测试终端上分别执行所述测试案例集的案例子集；以及获取所述多个测试终端的测试结果，从而完成所述测试任务计划，其中，所述测试案例集包括不同类型的多个测试案例，所述多个测试终端中的至少两个测试终端分别执行不同类型的测试案例。该批量测试方法利用测试案例集的分发，采用多个测试终端执行不同类型的测试案例，因而可以提高测试效率。
专利权项：1.一种固态硬盘的批量测试方法，包括：在多个测试终端上分别预先安装固态硬盘作为测试对象；将测试任务计划相关联的测试案例集分发给所述多个测试终端；在所述多个测试终端上分别执行所述测试案例集的案例子集；以及获取所述多个测试终端的测试结果，从而完成所述测试任务计划，其中，所述测试案例集包括不同类型的多个测试案例，所述多个测试终端中的至少两个测试终端分别执行不同类型的测试案例。
百度查询： 联芸科技(杭州)股份有限公司 固态硬盘的批量测试方法和批量测试系统
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