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申请/专利权人：广州思林杰科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种用于LCR测试仪的快速校准方法及系统，该方法为：通过标准LCR测试仪获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值；将所述标准电阻器的标准阻抗和标准相位值写入标准电阻器的EEPROM；待校准LCR测试仪通过测试获取标准电阻器的原始阻抗和原始相位值；终端通过测试底板获取标准电阻器内EEPROM内存储的标准阻抗和标准相位值；所述终端对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值进行多项式拟合获取拟合系数；所述终端根据拟合系数进行阻抗和相位校准,获得校准系数；将所述校准系数写入到待校准LCR测试仪。本发明通过测量部分频率的数据，拟合出整个频率范围内的系数，大大提高了校准效率。

主权项：1.一种用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，该方法为：通过标准LCR测试仪获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值；将所述标准电阻器的标准阻抗和标准相位值写入标准电阻器的EEPROM；待校准LCR测试仪通过测试获取标准电阻器的原始阻抗和原始相位值；终端通过测试底板获取标准电阻器内EEPROM内存储的标准阻抗和标准相位值；所述终端对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值进行多项式拟合获取拟合系数,具体为：分别对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值在同个激励频率下根据y＝kx+b进行最小二乘法拟合，获得第一系数kk1,k2,k3,……,kn和第二系数bb1,b2,b3,……,bn，其中，x为需要被校准的原始阻抗或原始相位值，根据所述第一系数和第二系数分别确定对应的拟合曲线，根据该拟合曲线确定任意激励频率下对应的第一系数和第二系数，即为拟合系数；所述根据所述第一系数和第二系数分别确定对应的拟合曲线，具体为：将第一系数和第二系数的集合分别进行曲线拟合，获得第一系数k的拟合曲线Pk＝c1+c2f+c3f^2+…+cnf^q和第二系数b的拟合曲线Pb＝d1+d2f+d3f^2+…+dnf^q，其中，f为激励频率，c为在该激励频率下基于多项式拟合出来的第三系数，d在该激励频率下基于多项式拟合出来的第四系数，q为多项式的阶数；所述终端根据拟合系数进行阻抗和相位校准,获得校准系数；将所述校准系数写入到待校准LCR测试仪。

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