龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日：2021-08-03
公开（公告）日：2024-03-19
公开（公告）号：CN114062882B
专利技术分类：.单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）[2020.01]
专利摘要：本发明提供一种测定系统和测定方法，能够稳定地测定光半导体元件的准确的测定值。在测定方法中，通过光探针的入射端面来接收从光半导体元件输出的出射光，其中，使光半导体元件与光探针的相对位置沿与出射光的光轴交叉的平面发生变化，在多个位置处分别测定出射光的入射强度，获取表示相对位置的变化与入射强度之间的关系的入射强度图案。
专利权项：1.一种测定方法，通过光探针的入射端面来接收从光半导体元件输出的出射光，所述测定方法的特征在于，将所述光半导体元件与所述入射端面之间的间隔设定为规定的工作距离，使所述光半导体元件与所述光探针的相对位置沿与所述出射光的光轴交叉的平面发生变化，在多个位置处分别测定所述出射光的入射强度，获取表示所述相对位置的变化与所述入射强度之间的关系的入射强度图案，根据所述入射强度图案来计算所述出射光的辐射角。
百度查询： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 测定系统和测定方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号