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申请/专利权人：阿尔卑斯阿尔派株式会社
申请日：2023-09-21
公开（公告）日：2024-03-22
公开（公告）号：CN117741618A
专利技术分类：..结构特征，例如光学元件的布置[2006.01]
专利摘要：提供能够避免由来自发光元件的漏光引起的检测不良的接近检测装置。本发明所涉及的接近检测装置100具有：多个发光元件110；多个受光元件120；驱动电路130，依次驱动多个发光元件110；测定电路140，在多个发光元件110被依次驱动时，测定对应的受光元件120的受光信号；以及控制部150，在发光元件与受光元件间的距离相对近的测定时，控制发光元件的驱动电流，以抑制该发光元件的发光量，并且对受光元件的检测信号进行放大，以补偿被抑制的发光量。
专利权项：1.一种接近检测装置，通过利用来自发光元件的光照射物体并利用受光元件接收其反射光来检测物体的接近，该接近检测装置具有：多个发光元件；多个受光元件；驱动单元，依次驱动所述多个发光元件；测定单元，在所述多个发光元件被依次驱动时，测定从对应的受光元件输出的检测信号；以及控制单元，在发光元件与受光元件间的距离相对近的测定时，控制发光元件的驱动电流，以抑制该发光元件的发光量，并且对受光元件的检测信号进行放大，以补偿被抑制的发光量。
百度查询： 阿尔卑斯阿尔派株式会社 接近检测装置以及接近检测方法
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