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申请/专利权人:美光科技公司
申请日:2023-11-09
公开(公告)日:2024-06-07
公开(公告)号:CN118155703A
专利技术分类:.用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备〔ATE〕;所用接口[2006.01]
专利摘要:本公开涉及短时脉冲干扰检测。一种方法可包含执行至少一个短时脉冲干扰抵抗操作及由包含于经由连接矩阵耦合到第一处理单元的短时脉冲干扰检测器中的电路检测存储器系统上的短时脉冲干扰的指示。所述方法可包含经由所述连接矩阵向至少一第二处理单元通知所述检测到的所述短时脉冲干扰的指示。所述方法可包含在通知至少所述第二处理单元之后,经由所述至少所述第二处理单元传输短时脉冲干扰确认信号。
专利权项:1.一种用于短时脉冲干扰检测的方法,所述方法包括:执行至少一个短时脉冲干扰抵抗操作;由包含于经由连接矩阵135、235、335耦合到多个处理单元233、333、433中的第一处理单元233、333、433的短时脉冲干扰检测器371、431中的电路检测存储器系统上的短时脉冲干扰的指示;经由所述连接矩阵135、235、335向所述多个处理单元233、333、433中的至少一第二处理单元233、333、433通知所述检测到的所述短时脉冲干扰的指示;及在通知至少所述第二处理单元233、333、433之后,经由所述至少所述第二处理单元233、333、433传输短时脉冲干扰确认信号。
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