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申请/专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日：2024-03-25
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118199605A
专利技术分类：..接触式开关（专门适用于无传动零件的电子计时器的入G04G21/08）[2006.01]
专利摘要：本申请涉及电容检测技术领域，具体涉及一种电容检测电路、检测方法、检测芯片以及检测装置。当用户进行触摸操作时，电容检测端的待测电容Cx的大小发生变化。本申请提供的电容检测电路中，基于恒流源充电原理，将待测电容Cx充电和放电的过程中的电压分别与第一触发器的高翻转电压和低翻转电压作比较，输出第二驱动信号，并对第一驱动信号和第二驱动信号进行异或运算，得到第一充电驱动信号，并使用第一充电驱动信号对积分电容Cs进行充电，实现把待测电容Cx的容值，转换成给积分电容充电的时间。这样使用了更少的外围元件，同样达到了检测电容变化的效果，降低了系统的复杂度，提高了检测结果的精度。
专利权项：1.一种电容检测电路，其特征在于，包括：待测电容单元、运算单元以及积分单元，其中，待测电容单元，用于根据第一驱动信号输出第一控制信号；运算单元，用于根据所述第一驱动信号和所述第一控制信号，确定向积分电源提供的第一充电驱动信号；积分单元，用于根据所述运算单元提供的第一充电驱动信号和充电次数阈值，产生积分电压。
百度查询： 上海艾为电子技术股份有限公司 电容检测电路、检测方法、检测芯片以及检测装置
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