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存储装置的测试方法、测试装置、测试系统 

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申请/专利权人:中山市江波龙电子有限公司

摘要:本申请涉及存储装置测试技术领域,公开了存储装置的测试方法、测试装置、测试系统。该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试,该方法包括:第一电子设备获取第一操作数据;其中,第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时,采集的存储装置的行为数据得到;基于第一操作数据,对第一存储装置进行操作;在第一存储装置的操作过程中,对第一存储装置进行测试。通过上述方式,提升对存储装置的测试效果。

主权项:1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,所述方法用于第一电子设备对安装于所述第一电子设备中的第一存储装置进行测试,所述方法包括:第一电子设备获取第一操作数据;其中,所述第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时,采集的存储装置的行为数据得到;基于所述第一操作数据,对所述第一存储装置进行操作;在所述第一存储装置的操作过程中,对所述第一存储装置进行测试;其中,所述方法还包括:采集所述第二存储装置在所述第二电子设备中运行的行为数据;获取当前行的行为数据的命令类型;若所述命令类型为电流命令,则判断当前行的行为数据是否超过阈值,若是,则将当前行的行为数据保存至第一解析列表中;或,若所述命令类型为控制命令,则将当前行的行为数据保存至临时列表中;或,若所述命令类型为读写数据命令,则将当前行的行为数据进行解析,并基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至所述临时列表中;将所述临时列表中的行为数据保存至第一解析列表中;将所述第一解析列表中的行为数据合并为结构体;在所述结构体中设置延迟类型,得到第二解析列表;对所述第二解析列表进行预处理,以生成所述第一操作数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中山市江波龙电子有限公司 存储装置的测试方法、测试装置、测试系统

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