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申请/专利权人：歌尔光学科技有限公司
申请日：2024-07-31
公开（公告）日：2024-10-25
公开（公告）号：CN118837720A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本发明提出一种芯片测试电路板和芯片测试组件，涉及芯片检测技术领域，芯片测试电路板包括电路板，电路板上设置有用于接入待测芯片的待测芯片安装区、用于接入测试设备的第一待测点、用于接入测试设备的第二待测点和采样电阻；待测芯片安装区中包括待测引脚安装位，在待测芯片设置于待测芯片安装区时，待测芯片的待测引脚与待测引脚安装位电连接；采样电阻的第一端与待测引脚安装位连接，采样电阻的第二端接地设置；采样电阻的第一端经第一采样线与第一待测点连接，采样电阻的第二端经第二采样线与第二待测点连接。本发明将将采样电阻两端测点单独引线与两个待测点连接，提高了采样电阻的采样电流的精度及准确性。
专利权项：1.一种芯片测试电路板，其特征在于，所述芯片测试电路板包括：电路板，所述电路板上设置有用于接入待测芯片的待测芯片安装区、用于接入测试设备的第一待测点、用于接入测试设备的第二待测点和采样电阻；其中，所述待测芯片安装区中包括待测引脚安装位，在待测芯片设置于所述待测芯片安装区时，待测芯片的待测引脚与所述待测引脚安装位电连接；所述采样电阻的第一端与所述待测引脚安装位连接，所述采样电阻的第二端接地设置；所述采样电阻的第一端经第一采样线与所述第一待测点连接，所述采样电阻的第二端经第二采样线与所述第二待测点连接。
百度查询： 歌尔光学科技有限公司 芯片测试电路板和芯片测试组件
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